【摘要】本文利用表面等离子体技术和导模技术测定了银膜、SiO膜的介电常数和厚度,从而确定了液晶的介电常数和液晶盒厚度。首次将集成光学的漏模技术(m线方法)应用到测量液晶参数上,测定了液晶的的折射率和液晶盒厚。
【关键词】
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液晶显示中的一些光学问题 郭建新 黄锡珉 1995 10 0 ¥:0
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一种新的研究液晶指向矢截面的光波导方法 郭建新 史若桦 等 1995 27 0 ¥:0
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摩擦曲线沟形对液晶显示特性的影响 邵喜斌 凌志华 等 1995 98 0 ¥:0
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彩色液晶显示 吴声 富淑清 等 1995 200 0 ¥:0
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