【摘要】利用扫描隧道显微镜和扫描隧道谱方法,研究TAu(1111表面钻酞菁分子薄膜(CoPc/Au(111)的自旋弛豫现象.首先通过测量非弹性自旋翻转谱展宽获得自旋弛豫时间,然后根据类Korringa公式对其进行了定量分析.发现计算自旋弛豫时间时,如果只考虑导带电子与局域d电子间的自旋交换相互作用(s—d交换作用),尽管可以解释磁性原子在金属表面上的弛豫时间,但不能解释CoPc分子在Au(111)表面的情况.如果考虑CoPc分子中的7r电子是自旋极化的,可以很好地解释实验现象,因为分布在Pc大环上的7r电子也可能散射导带电子.分析表明,在s-d交换作用基础上,7r电子对导带电子的散射为自旋激发
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