【摘要】对钴、镍、铜、锌元素组成的不同配合物K壳层X射线的产生截面、谱线强度比、俄歇辐射强度比进行了测定,同时研究了化学效应对K壳荧光参数和俄歇辐射强度比的影响,并根据电荷转移过程解释了这些参数的变化.采用59.5keV的γ射线241Am的环形放射源对样品进行激发.用分辨率为150eV的Ultra-LEGe探测器在5.9keV测定样品产生的K壳X射线.
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