【摘要】利用耗散粒子动力学模拟方法研究了两嵌段共聚高分子薄膜中的一些微观性质．结果表明：薄膜中共聚高分子链的均方根末端距（D^2e）^1/2、均方根回旋半径（R^2g）^1/2。与薄膜厚度l、不同粒子间的相互作用强度aij、粒子与薄膜边界间的排斥作用强度apb均呈线性关系，而均方键长与aij、apb呈线性关系，随l增加则呈现出波浪形趋势．（D^2e）^1/2与（R^2g）^1/2的变化趋势可以相互对应．任一组分在薄膜中的密度分布可以通过其与薄膜边界间的相互作用来有效控制与调节。
【关键词】
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