【摘要】实验结果表明改进的实验室EXAFS谱仪测试Ni箔的K吸收得到的EXAFS谱与同步辐射上测量Ni箔得到的EXAFS谱相近,利用实验室EXAFS方法也可开展较好的结果测量研究,在SiO2粉末载体上Ni负载量变化的EXAFS结果表明,随着Ni负载量的降低,Ni的径向结构函数主配位峰的位置R=0.220nm保持不变,但振幅强度逐渐降低。负载量从Ni箔到2.5%Ni/SiO2,无序度因子σ由0.0068nm
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