【摘要】在北京同步辐射实验室XAFS实验站上建立了利用全电子产额方法探测XAFS的实验方法。通过测量单色X-射线在样品表面激发出的电子产额随X-射线能量的变化,提取在吸收边附近的XAFS震荡。对不同厚度Cu薄膜的测量表明,在Cu的K吸收边附近可观察到信噪比很好的XAFS震荡。该探测器设计简单,可以直接在大气下工作。全电子产额XAFS方法的建立,有助于导电薄膜和材料的近表面结构研究。
【关键词】
全文来源于知网
Ordered and Abrupt fcc Fe/Cu{111}Interface Observe 任万万 董宇辉 等 1998 123 0 ¥:0
收藏
The orbital symmetry of carbon monoxide on a Cs—pr HYLi FQLiu 等 1998 198 0 ¥:0
收藏
X—ray reflectivity and scanning—tunneling—microsco JUNWANG BINGDONG 等 1998 230 0 ¥:0
收藏
Four—crystal camera at BSRF and its applications J.H.Jiang Y.L.Tian 等 1998 307 0 ¥:0
收藏
高氢稀释制备微晶硅薄膜微结构的研究 郭晓旭1 董宝中2 等 1998 341 0 ¥:0
收藏