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JT—60U上大ELM引起的密度坪台崩塌

【摘要】在JT-60UELMyH模放电中,为了了解坪台结构的崩塌机理和芯部/边缘等离子体,用外差反射仪系统测量大(I)型ELM的详细行为。反射仪的相位信号显示出ELM引起的密度分布坪台崩塌所致的截止层(密度层)的移动。ELM事件分成先兆相位,崩塌相位,恢复相位和弛豫相位。靠近坪顶肩部测出的某一密度层在崩塌相位的等离子体内移动了约7cm。也研究了坪台密度下先兆振荡以及坪台结构崩塌的Dα脉冲间的关系。

【关键词】

8275 0页 国外核聚变 2002年2期 免费 N.Oyama 火苗

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