Document
中刊网——期刊资源领航者!
中刊网 > 建筑实践 > 文章详情

电子元器件失效分析及技术发展探究

代明德贵州振华华联电子有限公司 556000摘要:结构分析作为元器件可靠性评估的分析方法,通过非破坏性和破坏性试验对元器件的内部设计、结构、工艺和材料进行剖析来确定元器件本身是否存在潜在的失效风险的因素、可靠性问题、工艺缺陷和信息安全隐患等。结构分析不仅直接锁定元器件“不好用”的原因,还指导元器件生产研制单位进行技术改进。关键词:电子元器件;失效分析;技术发展前言元器件对装备的性能、寿命和可靠性起着决定性作用,且元器件也是装备失效的薄弱环节,元器件越发成为象征国家军工实力的战略性基础资源。由于元器件的设计、结构、工艺和材料直接决定元器件的固有可靠性,其中包含有许多重要的可靠性信息,若存在结构设

【关键词】

562 建筑实践 2024年3期 免费 代明德

全文来源于知网

推荐文献
标题 作者 发表时间 全网下载量 热度 页数 价格
  • 分享到QQ空间
  • 分享到微信
  • 分享到新浪微博
  • 分享到人人网

3541

28328

客服热线: 400-135-1886 在线QQ:80886731

备案号:冀ICP备19023034号-1    邮箱:kf@china-journal.net

增值电信业务经营许可证:冀B2-20190631

出版物经营许可证:新出发冀唐零字第S08000148号

河北刊云信息科技有限公司 Copyright © 2006-2024 中刊网 版权所有